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客户向Aehr订购FOX-NP，用于GaN功率器件

材料来源：雅时

客户是一家半导体器件全球供应商，其半导体器件主要用于电动汽车和电力基础设施

Aehr Test Systems已收到初步客户订单，订单内容为用于GaN功率器件的FOX-NP晶圆级测试和老化系统以及FOX WaferPak对准器。客户是一家半导体器件全球供应商，其半导体器件主要用于电动汽车和电力基础设施。

作为首个订购Aehr系统的GaN客户，该公司之所以选择Aehr，部分原因是Aehr能够提供整体解决方案，使客户能够在晶圆状态下对数千个器件施加热应力和电应力等条件。

Aehr Test Systems总裁兼首席执行官Gayn Erickson评论道：“该客户对用于其SiC器件的FOX晶圆级测试系统进行了长期广泛的评估，所产生的结果较为积极，于是决定向前迈进，首先采用我们的FOX-NP系统来测试其GaN器件的长期可靠性失效率，并针对重视安全性、可靠性和/或保障性的应用，鉴定其器件的生产外在失效筛选流程。”

“客户之所以做出这一决定，一个重要考虑因素是FOX-NP系统与面向大批量生产的Aehr FOX-XP系统完全兼容，支持GaN器件和SiC器件测试和老化所需的所有测试模式，包括高达2000伏特的高压测试，全晶圆测试不会产生可能损坏晶圆的电弧，这是我们独特专利技术的一个显著优势。”

包括FOX WaferPak对准器在内的FOX-NP系统计划在本财季发货并安装。

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