三星取得扇出型半导体封装件专利，提高封装结构的可靠性

据国家知识产权局公告，三星电子株式会社取得一项名为“扇出型半导体封装件”，授权公告号CN110867418B，申请日期为2019年5月。

专利摘要显示，本公开提供了一种扇出型半导体封装件，所述扇出型半导体封装件包括：框架，包括布线层和虚设层，并且具有凹入部，凹入部的底表面上设置有阻挡层；半导体芯片，设置在凹入部中，使得无效表面与阻挡层相对；第一互连结构，设置在连接焊盘上；第二互连结构，设置在最外层的布线层上；虚设结构，设置在虚设层上；包封剂，包封框架的至少一部分、半导体芯片的至少一部分、第一互连结构的至少一部分、第二互连结构的至少一部分和虚设结构的至少一部分，并且填充凹入部的至少一部分；以及连接构件，设置在框架和半导体芯片的有效表面上，并且包括电连接到第一金属凸块和第二金属凸块的重新分布层。虚设结构具有倾斜的侧表面。