EPC发布最新可靠性报告

报告显示了GaN器件在现实世界应用中的预期寿命

EPC发布了eGaN器件的第15阶段可靠性报告，记录了使用失效性测试方法的持续工作，并为包括太阳能优化器、激光雷达传感器和DC-DC转换器在内的现实世界应用添加了具体的可靠性指标和预测。

本报告介绍了对eGaN器件进行故障点测试的结果，为确定器件的内在故障机制提供了信息。

通过识别这些内在的故障机制开发了基于物理的模型，可以准确地预测产品在更多通用的操作条件下的安全操作寿命。这适用于来自真实世界经验的信息，以确定特定应用的任务稳健性。

本报告分为九个部分，每个部分都涉及不同的故障机制或应用案例，包括栅极上的电压/温度应力；漏极上的电压/温度应力；安全工作区；短路鲁棒性测试；机械力应力测试；热机械应力；长期激光雷达脉冲应力条件下的可靠性测试结果；使用失效性测试方法准确预测eGaN器件在太阳能应用中的使用寿命如何超过25年；以及将基于物理的模型应用于真实世界的DC-DC转换器使用情况。

苏州会议

雅时国际(ACT International)将于2023年5月23-24日,在苏州组织举办主题为“2023-半导体先进技术创新发展和机遇大会”。会议包括两个专题：半导体制造与封装、 先进技术及应用。分别以“CHIP China晶芯研讨会”和“ 先进技术及应用大会”两场论坛的形式同时进行。详情点击链接查看：https://w.lwc.cn/s/nAjqi2