红外波长的高性能测量

在LASER WoP 2022（4月26日至29日，慕尼黑）上，Instrument Systems将展示其最新的用于测量SWIR（短波红外）波长范围光谱辐射计CAS 140D IR，以及其用于窄带发射器（如VCSEL或激光器）近场分析的最新VTC 4000红外相机。

用于780-1700 nm波长的新型光谱辐射计提供CAS140D系列（国际公认的参照）经过验证的测量高精度和高可靠性。与前代产品相比，CAS 140D IR在信号灵敏度、杂散光抑制和电子学方面的性能有了明显提升。

除经过验证的测量高精度和高可靠性外，它还承诺在红外范围内的波长方面比以前CAS 140CT IR的性能显著提高。由于采用了新的光学架构设计，吞吐量增加了70%。杂散光比例再次被显著降低。此外，CAS 140D IR包含一个新的电子平台，可以更快地处理测量：最小整合时间从10ms减少到4ms，测量的总扫描时间从16ms减少到10ms。

由于测量时间缩短，用户得以获得生产效率提高同时具有更高精度和更高重复性的优势。作为宽带型号（780-1700nm）的补充，高分辨率设备专门用于测量窄带激光二极管，例如VCSEL：例如1300-1440nm，光谱分辨率为0.75nm。

与所有Instrument Systems光谱仪一样，红外型号具有可溯源至PTB或NIST的校准功能。借助触发盒，可以将各种不同的CAS模型组合到MultiCAS系统中，并在极宽的波长范围内并行进行复杂的光谱测量。通过与2D成像色度计、红外摄像机、积分球或测角仪系统的正确组合，它们可以精确、可靠地完成从紫外到红外波长范围内的个性化客户需求。

用于偏振控制VCSEL测试的红外相机

该公司还将展示其最新的VTC 4000红外相机，用于对VCSEL或激光器等窄带发射器进行近场分析。

工业标准的VCSEL以一种以上的偏振态发射，每个偏振态具有不同的偏振角，因此妨碍了无误差测量。由于采用了新的一次性程序，VTC 4000同时测量阵列中单个发射器的空间偏振，并提供必要的信息以减少测量装置的偏振依赖性。该程序最大限度地减少了VCSEL测试系统的误差，并为激光源的人眼安全提供了高度准确的测量值。这使制造商能够在保证安全操作的同时，充分挖掘VCSEL/激光器的功率效率。

VTC 4000专为对VCSEL阵列进行超快、精确的2D分析而开发。它允许在偏振控制下，同时表征阵列中单个发射器的所有相关参数。由于采用了独特的校准概念，二维质量分析以前所未有的测量精度进行。该概念基于平场和偏振校正，并纠正了光学系统的偏振依赖性。

如此校准的VTC 4000可以在一次测量过程中对视场内每个单一发射器的功率和偏振特性进行绝对测量。与Instrument Systems的所有测量设备一样，VTC 4000相机也根据国家标准(PTB)进行可追溯校准，并提供绝对精确的读数。其功率测量的最小误差使其测量精度是目前市场上任何其他VCSEL测量系统所无法比拟的。

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