晶圆测试和老化设备公司Aehr 加入美国电力研究所，助推第三代半导体产业应用

 晶圆测试和老化设备公司支持推进 SiC 和 GaN 电力电子技术

半导体测试和可靠性鉴定设备供应商Aehr Test Systems已加入美国电力研究所（PowerAmerica Institute），该研究所是一家公私合作的研究机构，致力于加速采用高性能、新一代SiC和GaN电力电子器件。

此次合作将使下一代 SiC 和 GaN 电力电子产品更快地推向市场，降低与新一代技术相关的成本和风险因素。

作为一个将半导体制造商和在其产品中使用半导体电力电子器件的公司聚集在一起的组织，美国电力研究所是一个很好的信息中心。在美国能源部的支持和顶尖研究人员的参与下，可以提供知识和流程来教育美国劳动力并提供更具创新性的产品设计。

PowerAmerica 执行董事 Victor Veliadis 表示：“晶圆测试和老化设备在大批量 SiC 和 GaN 生产中发挥着关键作用，因为晶圆级应力测试有助于打造高度可靠的 SiC 和 GaN 电力电子产品。我们欢迎 Aehr 加入PowerAmerica 家族，并期待与他们合作，加速宽带隙技术的采用。”

Aehr测试系统总裁兼首席执行官 Gayn Erickson 评论道：“Aehr 测试公司 很高兴成为 美国电力公司（PowerAmerica）的最新成员，并与其他知名组织一起推进宽带隙 (WBG) SiC 和 GaN 技术并加速下一代电力电子技术的发展。我们期待加入 WBG 研究、设备制造、电力电子和系统领域的一些最聪明的人，以降低成本和这项新技术的固有风险。”

“宽带隙半导体允许器件在更高的温度、电压和频率下运行，这使得使用这些材料的电力电子模块比由传统半导体材料制成的电力电子模块更加强大和节能。将更强大、更具成本效益的 SiC 和 GaN 技术推向市场的好处将推动电动汽车的续航里程更长，以及消费者、数据中心和工业流程的节能，并有助于向电网输送可再生能源。”

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