JadeSiC-NK非破坏性检测系统采用非线性光学技术对SiC衬底进行全片扫描
蔚华科技及其近期收购的子公司南方科技推出了JadeSiC-NK非破坏性缺陷检测系统。
JadeSiC-NK采用非线性光学技术对SiC衬底进行全片扫描,找出衬底内的致命缺陷,如BPD、TSD、MicroPipe、Stacking Fault。
据两家公司称,该系统可替代成本高的破坏性KOH(氢氧化钾)蚀刻检测方法,从而提高产量并改进工艺。
若以每块SiC晶锭需要蚀刻两片衬底计算,针对拥有100台长晶炉的衬底制造商,JadeSiC-NK每年可省下约768万美元的蚀刻损失成本。
蔚华科技首席执行官杨燿州说:“此次通过收购南方科技,蔚华旨在加快自主品牌产品的开发进程,从半导体封测设备扩展到光学检测领域。最初的重点是极具前景的
材料缺陷检测。此举有望为客户、员工、投资者带来一个振奋人心的新阶段。”
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