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Park Systems上海实验室乔迁开幕式盛大举行,致初心启新程!

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知行合一,行胜于言!开幕仪式取得圆满成功,共同见证Park Systems上海实验室开启新的篇章。
 
来源:Park原子力显微镜
 
  一切从新,华丽启幕。2023年5月8日上午,Park Systems上海实验室乔迁开幕式在上海德必虹桥国际WE盛大举行。上午十点,开幕仪式在在四起的掌声和绚烂的礼花中正式启动,来自原子力显微镜相关行业的专家、学者,以及国内外各大公司的高管齐聚一堂,为此次庆典带来了精彩思想碰撞。
 
Park Systems中国区首席代表张菲
 
开幕式上, 韩国驻上海领事馆的商务领事金根模先生出席了本次活动并为开幕式致辞。
 
韩国驻上海领事馆的商务领事金根模先生
 
  他首先转达了韩国驻上海领事馆金英俊总领事的祝福,并表示总领馆未来会为Park Systems在中国发展提供全力帮助。金根模领事表示Park Systems作为一家致力于研发世界先进的测量仪器高新企业,在实现精准测量的同时也具备了创新的能力。在致辞的最后,商务领事金根模先生表示非常期待Park Systems在中国的业绩实现跨越式发展。
 
Park Systems全球执行副总裁赵相俊博士
 
  接下来,Park Systems全球执行副总裁赵相俊博士也发表了致辞感言,他表示当今纳米技术已经成为几乎所有高科技产业发展的基础,要使纳米技术为高新技术产业做出应有贡献,需首先建立纳米计量学,Park Systems拥有先进AFM技术,这对纳米技术的发展至关重要。Park Systems上海实验室将通过原子力显微镜技术为中国先进学术领域做出科学和技术贡献而努力。Park Systems始终致力于新产品新技术的研发,我们在不断探索研究新应用的道路上不断前进,旨为提供更好的纳米测量技术。也希望大家可以莅临上海实验室参观学习,在分享成果的同时共同进步。
 
Park Systems中国区销售总裁张家荣
 
  在开幕式中,中国区销售总裁张家荣先生就Park Systems在中国区的发展历程,进行了详细介绍。
 
Park Systems中国区售后经理张华新
 
  随后,中国区售后经理张华新先生为售后服务工作等情况进行了深入交流。
 
Park Systems中国区销售经理魏晓冬
 
  最后中国区销售经理魏晓冬先生致闭幕辞,他说道:“Park Systems上海实验室,位于虹桥商务区核心区,总建筑面积近500m²,拥有12英寸的NX-Wafer自动化在线机台样机,8英寸的NX20样机及研究型NX10样机。近期还会进驻全自动化研究型FX40机台样机,同时不久的将来,还会进驻我们Park Systems新晋收购的德国Accurion品牌的EP4成像椭偏仪及主动隔振平台产品。这些产品和应用方案可以给客户从购买设备之前的调研考察到售后阶段的各种应用需求提供完备的技术支持。从而帮助我们的客户在各自的测量测试应用中解决面临的问题,提升工艺水平,提高研发效率。”
 
2023 Park Systems上海实验室剪彩仪式
 
  在室内活动结束之后,Park Systems在室外举行了激动人心的剪彩仪式。韩国驻上海领事馆的商务领事金根模先生、Park Systems全球执行副总裁赵相俊博士、Park Systems全球市场副总裁Jessica Kang、Park Systems全球技术支援部副总裁Peter Kang、Park Systems亚太区销售经理梁埈豪、Park Systems中国区总裁张家荣先生、Park Systems中国区首席代表张菲博士一同出席了剪彩环节。
 
2023 Park Systems上海实验室剪彩大合照
 
  开幕式圆满结束后,四方来宾集体留念并参观了Park Systems上海实验室。
 
应用工程师潘涛操作Park NX10和Park NX20进行现场演示
 
Park NX-Wafer洁净室现场演示  
 
Park Systems作为业界的引领者,此次上海新实验室开幕庆典受到了国内各大企业的广泛关注。未来更将踔厉奋发、勇毅前行,共同开创原子力显微镜领域的新局面。
 
2023 Park Systems上海实验室开幕式大合影
 
  创新是事业发展的生命力, 此次开幕式将开启Park Systems上海实验室的新征程。Park Systems会深入地展现有关实验室建设、管理等学术研究以及行业发展的全新风向,搭建客户和企业携手共赢的交流平台,共塑原子力显微镜产业崭新未来!
Park原子力显微镜
Park原子力显微镜公司(Park Systems)成立于1988年,是全球首家推出商业原子力显微镜产品的上市公司。Park成立30多年来,始终致力于纳米领域的形貌&力学测量和半导体先进制程工艺的计量的新技术新产品的开发。Park独有的技术是将XY和Z扫描器分离,实现探针与样品间的真正非接触,避免形貌扫描过程中因探针磨损带来的图像失真,快速成像的同时还可以大大提高测试效率,降低实验测试成本。更多内容请点击官网查看:www.parksystems.cn

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